掃描電鏡（SEM）成像在某些情況下可能受到樣品尺寸和形狀的限制，尤其是在一些特殊的樣品幾何條件下。以下是一些可能影響掃描電鏡成像的因素：

樣品尺寸：

小樣品： 對(duì)于非導(dǎo)電性的小樣品，可能需要更高的電子束能量，這可能導(dǎo)致較大的充電效應(yīng)。此外，小樣品的信號(hào)可能較弱，需要更長(zhǎng)的采集時(shí)間來(lái)獲得清晰的圖像。

大樣品： 對(duì)于大型樣品，可能需要在掃描過(guò)程中移動(dòng)樣品或使用多個(gè)掃描區(qū)域來(lái)獲得整個(gè)樣品的圖像。

樣品形狀：

凹陷和孔洞： 凹陷或孔洞的樣品表面可能難以獲得均勻的電子信號(hào)，導(dǎo)致圖像中的陰影和失真。在一些情況下，可能需要采用更高的放大倍數(shù)來(lái)觀察這些特征。

不規(guī)則形狀： 不規(guī)則形狀的樣品可能需要更復(fù)雜的取向角度和多個(gè)掃描區(qū)域，以獲取全貌圖像。一些樣品可能需要傾斜觀察，使用特殊的樣品支架或樣品制備技術(shù)。

導(dǎo)電性： 非導(dǎo)電性樣品可能更容易發(fā)生充電效應(yīng)。在這種情況下，可能需要使用導(dǎo)電性涂層或其他電導(dǎo)材料來(lái)減小充電效應(yīng)。

樣品制備： 樣品的制備過(guò)程對(duì)于SEM成像至關(guān)重要。厚度不均勻的涂層、表面粗糙度、殘留的固體或液體等因素都可能影響圖像質(zhì)量。

ZEM20臺(tái)式掃描電鏡

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