新聞資訊開拓創(chuàng)新，高端品質(zhì)，真摯服務(wù)

當(dāng)前位置：主頁(yè) > 新聞資訊

掃描電鏡圖像放大后出現(xiàn)模糊怎么辦

掃描電鏡（SEM）圖像在放大后出現(xiàn)模糊，是較常見的問題，影響微納米結(jié)構(gòu)觀察的清晰度與分辨率。

掃描電鏡（SEM）圖像出現(xiàn)抖動(dòng)（flickering / jittering），是一種常見但令人困擾的問題，圖像可能表現(xiàn)為輕微跳動(dòng)、震蕩或邊緣模糊，影響成像質(zhì)量和精度。

掃描電鏡（SEM）中樣品在腔內(nèi)出現(xiàn)“漂移”現(xiàn)象，通常表現(xiàn)為圖像位置緩慢移動(dòng)或無法穩(wěn)定對(duì)焦，嚴(yán)重時(shí)甚至圖像模糊、重影。

掃描電鏡（SEM）圖像突然變黑，意味著探測(cè)器沒有接收到足夠的信號(hào)或信號(hào)完全喪失。

掃描電鏡（SEM）成像過程中圖像“漂移”是指圖像在連續(xù)掃描時(shí)緩慢移動(dòng)、扭曲或者抖動(dòng)，這會(huì)嚴(yán)重影響圖像清晰度與可重復(fù)性。

掃描電鏡（SEM）圖像上出現(xiàn)條紋或亮點(diǎn)的原因可能有多種。

掃描電子顯微鏡（SEM, Scanning Electron Microscope）成像的原理，是通過聚焦電子束掃描樣品表面并收集產(chǎn)生的各種信號(hào)來形成圖像。

掃描電子顯微鏡（SEM）需要真空環(huán)境，主要原因如下：