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掃描電鏡的樣品臺傾斜角度如何影響成像效果？

掃描電鏡（SEM）樣品臺的傾斜角度對成像效果有重要影響，主要體現(xiàn)在以下幾個方面：

2025年3月29日-31日，2025年第二屆原子級制造論壇將在北京市舉辦。

在掃描電鏡（SEM）成像中出現(xiàn)條紋或噪聲可能會影響圖像質(zhì)量，常見的條紋和噪聲類型及其可能原因如下：

掃描電鏡（SEM）的標定（Calibration）主要用于確保測量的準確性，包括尺寸測量、放大倍率、電子束偏轉(zhuǎn)等。

掃描電鏡（SEM）中常見的成像模式有多種，每種模式用于不同的分析目的，下面是一些常見的成像模式：

掃描電鏡（SEM）的圖像生成過程涉及電子束與樣品表面相互作用的復雜過程。

是否需要烘干處理取決于樣品的材質(zhì)、含水量以及掃描電鏡（SEM）模式。

非導電樣品在掃描電鏡（SEM）下成像時，由于電子束轟擊樣品會導致電荷積累，進而產(chǎn)生充電效應(yīng)，這可能導致圖像畸變、漂移甚至無法成像。